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Thick 800能量色散X熒光光譜儀

描述:Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定,采用上照式,通過三維的移動和激光定位,實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.

更新時間:2024-12-17
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廠商性質:代理商
詳情介紹

 

Thick 800
Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定,它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計,而是采用上照式,通過三維的移動和激光定位,實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.應用領域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測;金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;貴金屬加工和首飾加工行業;銀行、首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。
◆◆技術指標:
元素分析范圍:從K到U
一次性可同時分析多層鍍層
分析厚度檢測出限zui高達0.01um
同時可分析多達5層以上鍍層
相互獨立的基體效應校正模型,厚度分析方法
多次測量重復性zui高可達0.01um
長期工作穩定性小于0.1um(5um左右單鍍層樣品)
溫度適應范圍:15~30
輸出電壓220±5V/50HZ(建議配置交流凈化穩壓電源)
◆◆配置
開放式樣品腔
二維移動樣品平臺
探測器和X光管上下移動可實現三維移動
雙激光定位裝置
準直器自動切換裝置
玻璃屏蔽罩
正比計數盒探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
X光管
計算機及噴墨打印機
樣品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
外型尺寸:648mm×490mm×544mm

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